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      KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042

      • 品  牌:KARL DEUTSCH
      • 型  號:LEPTOSKOP 2042
      • 技術資料:
      • 閱讀次數:5922

      產品介紹

      大型圖形顯示48毫米×24毫米,帶照明

      校準選項:

      出廠前校準,立刻準備測量

      校準未知涂層

      零點校準

      未涂覆基材之一,多箔校準

      涂層材料校準

      校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件,并可以重新裝載

      可選的顯示模式,以獲得適應測量任務

      輸入和監控限制

      Windows下讀數存儲,方便文件管理

      可用的PC軟件EasyExport和ICOM

      多達999個讀數統計評估

      最小值,最大值,平均值,讀數,標準差,監測極限

      局部厚度和平均涂層厚度(DINEN ISO2808)

      在線統計,所有統計值一目了然

      產品可配KARL DEUTSCH探頭

      KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立以來,一直致力于研發和生產無損檢測儀器和設備,是個傳統的家族企業。產品包括便攜式儀器,臺式儀器, 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務是超聲波焊縫檢測,鑄件缺陷檢驗,用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測,軌道交通和航空安全系統中的部件檢測,以及壁厚和涂層厚度測量。

      詳細參數

      串行接口:將數據傳輸到RS232或USB

      電源:通過電池,USB或電源裝置

      測量范圍:0 -20000微米(取決于探頭)

      測量速率:高達每秒2讀數

      存儲:最大9999,讀數高達140文件

      測量不確定度(校準后)

      涂層厚度<100微米:讀數+/-1微米的1%

      涂層厚度>100微米:讀數+/-1微米的1..3%

      涂層厚度>1000微米:讀數+/-10微米的3..5%

      涂層厚度> 10000微米:讀數+/- 100微米的5%


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