阻隔膜厚度測量儀K-xray

K-XRAY Rotomat KT是一款適用于吹膜生產線在線測厚的系統，可實時測量薄膜厚度。其產生的19千電子伏特強度X射線，即使在極薄薄膜上也能實現高分辨率厚度測量。

憑借這些獨特特性，K-XRAY Rotomat KT成為測量阻隔薄膜的解決方案。

即使面對極薄且具有觸感功能的阻隔膜，K-XRAY Rotomat KT傳感器的測量精度依然能夠實現高分辨率厚度檢測。該技術基于X射線后向散射原理，并采用溫度可控的氣墊系統。通過搭載專利彎曲臂的振蕩掃描儀，該設備能夠以快速度直接在阻隔膜生產線的氣泡上測量厚度分布曲線。

• 傳感器與薄膜間設有溫控氣隙（獨特功能）
• 相較于壓區后置測量儀，可更快獲取厚度曲線
• 操作許可流程簡便，優于固態輻射設備
• 采用X射線后向散射實現輻射測量（獨特功能）
• 配備彎曲臂的振蕩掃描儀

• 主要采用非接觸式測量圓柱形薄膜氣泡厚度
• 適用于聚乙烯（PE）、聚丙烯（PP）、聚酰胺（PA）、乙烯-乙醇酸共聚物（EVOH）、熱塑性聚氨酯（TPU）及類似材料制成的阻隔膜
• 適用于粘性薄膜