DICON EXFO光器件測試儀CT440

CT400將高速電子設備和光干涉測量技術結合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道，單次激光器掃描的動態范圍為65 dB。此外，在以任何速度進行掃描時波長精度都可以達到±5 pm，因此不需要在測量速度和精度間進行取舍。CT440集成了一個監測光電探測器，在掃描期間對來自激光光源的任何功率波動進行補償。可以不考慮激光器掃描速度，在1和250 pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長精度外，內置的波長計可減輕對可調諧激光光源（TLS）的要求，從而在不影響測量性能的情況下降低系統成本。CT440在與TLS和PC連接時，可提供執行準確測量所需的各種功能。

• 快速測量變換函數（插損）
• 波長范圍：1240-1680 nm（SMF型號）
• PM和PDL選件
• 波長分辨率：1至250 pm
• 波長精度：±5 pm
• 動態范圍：單次掃描時65 dB
• 至多可結合4個可調諧激光器（SMF型號）
• 配備四個內部檢測器，可通過同步進行擴展
• 19英寸機架支持1U版本

• 工作溫度：15 °C至30 °C（59 °F至86 °F）
• 存儲溫度：–10 °C至60 °C（14 °F至140 °F）
• 相對濕度:<80 %（非冷凝）
• 電源:AC：100 V至240 V（50 Hz至60 Hz）
• 尺寸（W x H x D）:440 mm x 50 mm x 375 mm
• 重量:3.5 kg至3.9 kg（7.7 lb至8.6 lb）