Semicansoft薄膜測量系統MProbe 20

MProbe 20是一種用于全球數千個應用的薄膜厚度測量臺式系統。它只需單擊鼠標即可測量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地測量1nm至1mm的厚度，包括多層膜堆疊。不同的MProbe 20模型主要通過光譜儀的波長范圍和分辨率來區分，這反過來決定了可以測量的材料的厚度范圍和類型。該測量技術基于光譜反射——快速、可靠且無損。

• 靈活：模塊化薄膜厚度測量系統：為您的應用選擇更好配置，并在需要時輕松升級
• 精度：<0.01nm或0.01%
• 材料：500+擴展材料數據庫
• 軟件：用戶友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復雜的應用程序。層數無限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
• 集成：輕松集成TCP服務器
• 實時、一鍵測量和分析
• 測量歷史：調用/顯示測量結果和統計數據

產地：美國

精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上進行100次測量的s.d.）

<1nm或0.2%（依賴于膠片堆棧）

穩定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天測量）

測量厚度：1nm至1mm

光斑尺寸：<1mm

樣品尺寸：>=10mm

主機：包括光譜儀、光源、光控制器微處理器

樣品臺：SH200A

探頭：光纖反射

測試樣品：200nm氧化硅或PET薄膜

電纜：USB或LAN

電源適配器：24VDC

電壓：110/220V