QWED諧振器SPRD

SPDR使用特定的諧振模式。該模式具有取決于諧振器尺寸的特定諧振頻率，并且在一定程度上也取決于測量樣品的電學(xué)性質(zhì)。因此，每個諧振器被設(shè)計用于特定的額定頻率，并且實(shí)際測量以接近標(biāo)稱頻率的頻率進(jìn)行。SPDR的基本線路的標(biāo)稱頻率為：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之間的其他頻率的諧振器可以在特殊要求下制造。

測量空諧振器和諧振器的諧振頻率和Q因子。提供專用軟件用于介電常數(shù)和介電損耗角正切測定。可以使用Agilent Technologies配備85071E材料測量軟件（選件300）的PNA / ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之一，用戶只需將QWED的專用應(yīng)用程序上傳到網(wǎng)絡(luò)分析儀中，并直接在其顯示屏上獲得結(jié)果。使用不同網(wǎng)絡(luò)分析儀的用戶需要在標(biāo)準(zhǔn)PC計算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)分析儀（如果配備Windows操作系統(tǒng)）上安裝介質(zhì)特性計算軟件。

薄層電阻測量范圍：4kΩ÷10MΩ

產(chǎn)地：波蘭

標(biāo)稱頻率：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz

表面材質(zhì)：鋁

結(jié)果顯示：顯示屏

薄層電阻測量范圍：4kΩ...10MΩ

薄層電阻測量次數(shù)：2

薄膜襯底：半絕緣

測量數(shù)值：層狀介電材料的復(fù)介電常數(shù)

可定制：是

溫度范圍：-270℃至110℃

SPDR用于測量包括LTCC襯底在內(nèi)的層狀電介質(zhì)材料的復(fù)介電常數(shù)，也用于沉積在低損耗介質(zhì)襯底上的薄鐵電薄膜。此外，SPDR可用于測量各種導(dǎo)電材料（如商用電阻層，薄導(dǎo)電聚合物膜或高電阻率半導(dǎo)體）的表面電阻和電導(dǎo)率。這種測量僅適用于Rs> 5kΩ/平方的大表面電阻采樣。樣品的小尺寸取決于諧振器的工作頻率。SPDR適合在-270℃至110℃的溫度下工作。